Dereo HR高分辨率便攜式平板探測(cè)器
Xris （X-ray Imaging Solutions CO.,LDT）
比利時(shí)X射線數(shù)字圖像公司是歐洲的工業(yè)射線數(shù)字檢測(cè)方案的，是比利時(shí)發(fā)展的50家高科技企業(yè)之一，推出的GemX（寶石）系列便攜式射線機(jī)、Gxc移動(dòng)式射線機(jī)、Dereo（迪瑞歐）射線數(shù)字成像系統(tǒng)（DR）。
產(chǎn)品為世界主流的工業(yè)無損檢測(cè)探傷產(chǎn)品，針對(duì)航空航天、工、運(yùn)輸設(shè)備、機(jī)械制造、壓力容器、電力、石油化工、能源、安檢安監(jiān)、防爆安保和考古科研領(lǐng)域都有專業(yè)的射線檢測(cè)技術(shù)方案和配置。
Dereo（迪瑞歐）系列產(chǎn)品：
高分辨率小型探測(cè)器：HR0510；HR1010；
100μm高分辨率探測(cè)器：UP2530；UP3643；
高能多用途平板探測(cè)器：HE2530；HE4040；
在線式高能平板探測(cè)器：RAD2530，RAD4040。
Dereo HR高分辨率便攜式平板探測(cè)器
適用于航空&航天（NADCAP認(rèn)證）、石化、機(jī)械和電力等的金屬材料、非金屬材料和復(fù)合材料的缺陷檢測(cè)
主要參數(shù)：
探測(cè)器類別：CMOS
射線耐壓：0-200kV
像素尺寸：48μm/96μm
灰度等級(jí)(A/D):14 bits
成像面積：50*100毫米/100*100毫米/100*150毫米
外形尺寸：W127.5×H80×T25.5毫米
W143.5×H107×T25.5毫米
整機(jī)重量：0.6公斤/0.9公斤
軟件：Xris Maestro V5.1.0
交流電源或自帶電池作業(yè)（持續(xù)工作6~8小時(shí)）
特點(diǎn)：
（1）能達(dá)到Class B成像等級(jí)，滿足NADCAP認(rèn)證要求；
（2）符合國(guó)內(nèi)外NDT標(biāo)準(zhǔn)ISO17636，ASTM-E2698，E2736，E2737，E2597…；
（3）高信噪比，高空間分辨率和精度。
（4）軟件界面友好，功能強(qiáng)大，為專業(yè)的無損檢測(cè)軟件，適用范圍廣泛；
（4）體積小，厚度薄，重量輕，結(jié)構(gòu)小巧，方便布置。
