激光誘導擊穿光譜 LIBS-R900通過高能脈沖激光（通常為納秒級）聚焦于樣品表面，瞬間產生高溫等離子體的元素測試分析系統(tǒng).

激光誘導擊穿光譜 LIBS-R900產品概述

激光誘導擊穿光譜實驗是通過超短脈沖激光聚焦樣品表面形成等離子體，對等離子體發(fā)射光譜進行分析來確定樣品的物質成分及含量。超短脈沖激光聚焦后能量密度較高，可以將任何物態(tài)（固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)）的樣品激發(fā)形成等離子體，LIBS技術（原則上）可以分析任何物態(tài)的樣品，僅受到激光的功率以及探測光譜儀的靈敏度和波長范圍的限制。幾乎所有的元素被激發(fā)形成等離子體后都會發(fā)出特征譜線，因此，LIBS可以分析大多數的元素。

基本原理

基本原理為高能量激光聚焦到待測樣品表面,燒蝕樣品激發(fā)產生等離子體,通過采集裝置將等離子體輻射光傳輸到光譜儀進行分光，并通過光電探測器實現光電轉換后獲得光譜。最后，研究學者在計算機中根據等離子體發(fā)射光譜的波長和強度可分析得到待測樣品的元素組成及含量。

激光誘導擊穿光譜 LIBS-R900產品介紹

產品參數：

• 探測波段范圍：200-900nm（其他波段可選），全國產iCMOS相機

• 光學分辨率：<0.1nm,更小值可選

• 最短門控：3ns，采用全國產iCMOS相機

• 延遲與門控精度：10ps

• 激光器能量：50、100、200、400mj等可選

• 波長重復精度：0.01nm

• 三維位移臺：行程 可選

• 支持定制真空腔光路，樣品氣體吹掃等功能

• 光譜顯示（峰值、半高寬）、譜線識別、文件自動保存

• 自動聚焦功能

• Mapping功能

• 樣品圖像實時顯示

產品特色：

• 完整、安全的外罩設計，便于運輸和現場開箱即用。

• 同軸、異軸硬件框架設計，靈活適配科研實驗需求。

• 依照不同的實驗室測量精度要求可靈活搭配激光器、光譜儀以及快速門控相機

• 基于激光和視覺算法的自動對焦系統(tǒng)，對樣品表面實時跟蹤實現LIBS的自動跟焦和Mapping。

• 軟件界面突出Mapping和定量元素分析的特色，實時顯示元素Mapping分布圖。

軟件測試界面

簡潔的操作頁面，無需繁瑣的設計，一個按鍵可實現全自動化測試。

強大的視覺功能，可實現Mapping圖，并自動完成譜圖生成，并對樣品元素成分分布進行偽色彩區(qū)分顯示。

接口豐富性，可接入不同數據庫，從而達到數據的高強度兼容。

應用領域

• 礦產（煤質分析）、冶金、爐渣等金屬物質的成分探測

• 土壤、大氣、水體等環(huán)境中重金屬元素分析測量

• 地質、考古等領域的年代分析

• 生物領域的細胞、皮膚，癌細胞等生物組織的成像應用 

推薦搭配

• 顯微鏡模塊，用于微觀樣品的測量以及分析

• 拉曼模塊，用于多樣的化學、材料等領域分析

• 熒光模塊，不同熒光波段的光譜測試應用

• Mapping模塊，用于整體樣品的測試與部分區(qū)域的差異化分析
  

可升級功能

• Raman光譜與Mapping

• 門控Raman光譜

• 可通過購買端口接入某大廠數據庫進行元素分析識別