產(chǎn)品描述iNano®納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料

產(chǎn)品描述

iNano^®納米壓痕儀可輕松測(cè)量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶(hù)友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測(cè)試等多種納米級(jí)機(jī)械測(cè)試。該儀器的力荷載和位移測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍很大，因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復(fù)測(cè)試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測(cè)試、刮擦和磨損以及高溫測(cè)試。iNano^®提供了一整套測(cè)試擴(kuò)展選項(xiàng)，包括樣品加熱、連續(xù)剛度測(cè)量、NanoBlitz3D/4D屬性映射和遠(yuǎn)程視頻選項(xiàng)。

主要功能

·         InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)

·        ISO 14577和標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試方法

·        InView軟件包，包含RunTest、ReviewData、InFocus報(bào)告、InView大學(xué)在線(xiàn)培訓(xùn)和InView移動(dòng)應(yīng)用程序

·        的軟件集成探頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的探頭校準(zhǔn)

·        InForce50驅(qū)動(dòng)器，用于電容位移測(cè)量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭

·        XY移動(dòng)系統(tǒng)以及易于安裝的磁性樣品架

·        帶數(shù)字變焦的集成顯微鏡，可實(shí)現(xiàn)精確的壓痕定位

主要應(yīng)用

·        硬度和模量測(cè)量（Oliver Pharr）

·        高速材料性質(zhì)分布

·        ISO 14577硬度測(cè)試

·        聚合物tan delta，儲(chǔ)存和損耗模量

·        樣品加熱

工業(yè)應(yīng)用

·        大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

·        半導(dǎo)體和封裝行業(yè)

·        聚合物和塑料

·        MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）/納米級(jí)通用測(cè)試

·        陶瓷和玻璃

·        金屬和合金

·        制藥

·        涂料和油漆

·        聚合物制造

·        復(fù)合材料

·        電池和儲(chǔ)能