產(chǎn)品描述常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進(jìn)行測試，還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制，可定位樣品進(jìn)行成像

產(chǎn)品描述

常溫SEM原位納米壓痕儀——NanoFlip納米壓痕儀提供高精度XYZ位移，可定位樣品進(jìn)行測試，還提供翻轉(zhuǎn)機(jī)制，可定位樣品進(jìn)行成像。InView軟件附帶一套測試方法，涵蓋一系列測試協(xié)議，并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測試方法。InForce50驅(qū)動(dòng)器在真空和常壓條件下表現(xiàn)同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像，并與機(jī)械測試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術(shù)允許樣品傾斜90°，無需移除樣品即可實(shí)現(xiàn)從FIB到壓痕測試的無縫過渡。

主要功能

·        InForce 50驅(qū)動(dòng)器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭

·        InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)

·        用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)

·        SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步

·        的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)

·        與Windows^®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開發(fā)功能

主要應(yīng)用

·        硬度和模量測量（Oliver-Pharr）

·        連續(xù)剛度測量

·        高速材料性質(zhì)分布圖

·        ISO 14577硬度測試

·        聚合物的納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析（DMA）

·        定量刮擦和磨損測試

工業(yè)應(yīng)用

·        大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

·        支柱和微球制造

·        MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）

·        材料制造（結(jié)構(gòu)壓縮/斷裂測試）

·        電池和元件制造