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參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng) 昆山吉安麥機(jī)電設(shè)備有限公司
品牌
型號(hào)
所在地 蘇州市
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2024/6/14 13:45:41
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 143

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促銷(xiāo)詳情

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2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷(xiāo)

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴(lài)度；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴(lài)。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

聚苯乙烯球上的金納米顆粒，在3kV電壓下成像

詳細(xì)信息在線(xiàn)詢(xún)價(jià)

聚苯乙烯球上的金納米顆粒，在3kV電壓下成像。左：Inlens SE 圖像，表面形貌。右：EsB 圖像，材料襯度。樣品：由德國(guó)University Erlangen-Nuremberg 大學(xué)的 N. Vogel 提供。

蔡司GeminiSEM 系列
用于進(jìn)行高襯度和低電壓成像的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

GeminiSEM 系列產(chǎn)品能夠輕松實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像，即便在低真空模式下仍具有的探測(cè)效率。GeminiSEM 500 將成熟的 Gemini 技術(shù)與革新的光學(xué)設(shè)計(jì)結(jié)合，從而全面提升成像分辨率，尤其是在低電壓下。借助其 20 倍增強(qiáng)的 in-lens 信號(hào)探測(cè)能力，您能夠快速地獲取清晰圖像，并使樣品損傷降至。GeminiSEM 系列產(chǎn)品的全新可變壓力模式，讓您擁有在高真空環(huán)境下成像的感覺(jué)。
運(yùn)用 GeminiSEM 系列產(chǎn)品獲取真實(shí)世界中任意樣品的出色圖像，為您的研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或成像平臺(tái)添置一臺(tái)靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。

在低電壓下獲取更豐富的細(xì)節(jié)信息

在低電速電壓下利用高襯度照片解析納米級(jí)結(jié)構(gòu)信息。
在500V電壓下達(dá)到1.2nm分辨率成像，在1kV電壓下達(dá)到1.1nm分辨率成像。您將受益于無(wú)樣品偏差的出色圖像品質(zhì)。
成熟的Gemini技術(shù)縮短了成像時(shí)間。

隨時(shí)提供更強(qiáng)的信號(hào)

GeminiSEM 500新的物鏡設(shè)計(jì)大大提高了檢測(cè)效率。它將in-lens二次電子信號(hào)增強(qiáng)了20倍。
通過(guò)檢測(cè)最合適的那部分電子信號(hào)，您可以提升效率并獲得樣品的信息。
您可以利用這一優(yōu)勢(shì)顯著縮短成像時(shí)間，或者使用更低電流以避免樣品損傷。

可變壓力使其更具靈活性

在可變壓力模式下工作，讓您擁有在高真空環(huán)境下成像的感覺(jué)。
在可變壓力下使用in-lens檢測(cè)。獲得高分辨率、高襯度和高信噪比的圖像。
如今，即使是要求的非導(dǎo)電樣品也能獲得清晰圖像。

技術(shù)規(guī)格

基本規(guī)格	蔡司 GeminiSEM 500	蔡司 GeminiSEM 300
分辨率*	15 kV 時(shí)，0.5 nm	15 kV 時(shí)，0.7 nm
	1 kV 時(shí)，0.9 nm	1 kV 時(shí)，1.2 nm
	0.5 kV 時(shí)，1.0 nm
	在 30 Pa 樣品室壓力和 3 kV 電壓（配有可變壓力機(jī)型）下，1.4 nm
加速電壓	0.02 – 30 kV
探針電流	3 pA - 20 nA（另有 100 nA 配置）
放大倍率	50 – 2,000,000 ×	12 – 2,000,000 ×
電子槍	熱場(chǎng)發(fā)射型，穩(wěn)定性?xún)?yōu)于 0.2%/h
主機(jī)標(biāo)配探測(cè)器	Inlens 二次電子探測(cè)器
	Everhart Thornley 二次電子探測(cè)器
	高效 VPSE 探測(cè)器（包含在可變壓力選件中）
可選配的探測(cè)器
	環(huán)形 STEM 探測(cè)器（aSTEM 4）
	AsB4背散射探測(cè)器
	陰極熒光探測(cè)器
圖像存儲(chǔ)	32k × 24k 像素
樣品臺(tái)	5 軸電動(dòng)優(yōu)中心樣品臺(tái)
	X = 130 mm；Y = 130 mm
	Z = 50 mm
	T = -3o - 70o
	R = 360o （連續(xù)）
	按需可提供更多載物臺(tái)選件
*工作距離處的分辨率參數(shù)，取決于配置