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X-MaxN大面積SDD能譜儀

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X-MaxN 的晶體尺寸從適合于微米分析的20 mm2到納米材料分析150 mm2的共四種可選。尤其是150 mm2為當(dāng)今晶體面積zui大的探測器，分析速度至少是普通探測器的兩倍。

詳細(xì)信息 在線詢價

一代X-MaxN大面積SDD能譜儀于2012年8月橫空出世，攜硅晶體、電路設(shè)計以及技術(shù)帶來新一代能譜儀的全面改觀。

X-MaxN 的晶體尺寸從適合于微米分析的20 mm2到納米材料分析150 mm2的共四種可選。尤其是150 mm2為當(dāng)今晶體面積zui大的探測器，分析速度至少是普通探測器的兩倍。

總覽

  • 探測器晶體尺寸可選，分別為150 mm2，80 mm2，50 mm2，20 mm2
  • 無論晶體面積或大或小，X-MaxN 的分辨率始終如一的好——并符合標(biāo)準(zhǔn)ISO15632:2012
  • 無論晶體尺寸如何，能譜儀外管尺寸及在電鏡中的位置**，確保相同條件下，計數(shù)率的增加只源于晶體尺寸的增加
  • 強大的低能端分析，所有晶體面積的能譜儀均保證由Be開始
  • 與上一代X-Max同，無論SEM或FIB均使用同一界面


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