光學(xué)沖擊試驗(yàn)缺口投影儀 夏比比對(duì)檢測(cè)儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。

光學(xué)沖擊試驗(yàn)缺口投影儀   夏比比對(duì)檢測(cè)儀CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2020《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，光學(xué)沖擊試驗(yàn)缺口投影儀   夏比比對(duì)檢測(cè)儀與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。