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X-Strata920有三種配置滿足各種形狀和尺寸的樣品
X-Strata 920有三種配置滿足各種形狀和尺寸的樣品。固定樣品臺用于小型或超薄部件的快速定位。加深樣品臺的可移動托盤可快速設(shè)置滿足小型和大型部件（大至6”）。程控樣品臺可自動分析多個樣品或同一個樣品上的多個部位。
微聚焦XRF鍍層測厚及材料分析光譜儀，可用于電鍍、PVD和CVD操作的快速質(zhì)量控制和驗證測試，不論您在檢測小配件、大組件或復(fù)雜配件，都能讓您在幾秒內(nèi)輕松得到正確的結(jié)果。
我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析，可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。
優(yōu)化的微聚焦硬件和直觀的用戶界面，簡化了常規(guī)分析，提高了產(chǎn)出，使用“一鍵式”操作可確保好簡單的培訓(xùn)就能同專業(yè)技術(shù)人員得到一樣的結(jié)果。高級用戶能容易地理解X熒光光譜，獲得定制的校準和探索未知的材料。
所有牛津儀器微聚焦XRF分析儀器符合ASTM B568，可測量單層和多層涂層，包括合金層。他們可以按電鍍液或合金分析來校準。X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品的設(shè)計滿足質(zhì)量控制或過程控制程序，以及研究實驗室的應(yīng)用。
X-Strata, Eco 和 MAXXI 系列產(chǎn)品是專為分析功能性鍍層而設(shè)計的。
驗證所用涂料的厚度和化學(xué)性，以確保在惡劣環(huán)境中的產(chǎn)品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。
防止產(chǎn)品故障，確保在磨料環(huán)境中的關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻性。復(fù)雜的形狀，薄或厚的涂層和成品都可以測量。
當目標是實現(xiàn)一個的電鍍時，整個生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制是至關(guān)重要的。牛津儀器全系列檢測設(shè)備，讓您放心檢驗基材，測試中間和頂部鍍層。
在好的條件下操作的表面處理必須控制在嚴格的公差范圍內(nèi)。確保鍍層符合規(guī)格，避免產(chǎn)品召回和潛在的災(zāi)難性故障。
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