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超高分辨率顯微鏡觀察能力遠超傳統(tǒng)光學顯微鏡，用于超細微結(jié)構(gòu)的超高分辨率成像更多資訊關(guān)聯(lián)顯微鏡光學顯微與電子顯微鏡綜合解決方案可以提供樣品的功能和動態(tài)信息更多資訊X 射線顯微鏡具有高對比度和亞微米級分辨率三維成像特點的X 射線顯微鏡，也可用于大樣品的檢測更多資訊掃描電子顯微鏡為生命科學、材料分析、半導體技術(shù)和質(zhì)量控制領(lǐng)域提供高分辨率表面信息。更多資訊FIB-SEM 電子顯微鏡聚焦離子束刻蝕與三維成像
EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。 *顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實驗室的多功能解決方案 *不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺選項-甚至是大型工業(yè)零部件樣品 *使用LaB6燈絲，能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量 *對不導電和無導電涂層的樣品的成像和分析性能出色 *可以配置多種分析探測器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求 EVO 系列 蔡司EVO 10 蔡司EVO 15 蔡司EVO 25 選擇 EVO 10（可選配BSD和EDS）是您想以一個非常實惠的價格購買掃描電子顯微鏡的切入點。即使這個EVO真空室很小，它也不同于臺式電鏡。您現(xiàn)在在 EVO 的投資保證了您已經(jīng)為將來需要更多空間和端口的應(yīng)用做好了準備。 EVO 15 充分展示了 EVO 家族的靈活性概念， 并擅長于分析應(yīng)用。選擇 EVO 15 更大的真空室， 并增加對不導電樣品或零件的成像和分析的可變壓力模式， 你將有一個多功能多用途的顯微鏡設(shè)備或者工業(yè)質(zhì)量保證實驗室的解決方案。 EVO25 是工業(yè)的主力解決方案， 它有足夠的空間以容納甚至更大的部件和組件。可選的 80 mm Z 軸行程載物臺可進一步擴展 EVO 25的功能， 它可以處理重量高達2公斤的樣品甚至傾斜。此外， 大的真空室將能夠容納多個分析檢測器以滿足苛刻的微量分析應(yīng)用需求。 100 mm 145 mm 210 mm 230 mm 250 mm 300 mm 80 x 100 x 35 mm 125 x 125 x 50 mm 130 x 130 x 50 (或 80) mm * * * 可變壓力模式 (VP) 不導電且不噴涂導電層樣品的高質(zhì)量成像和分析 * * * * * * SmartSEM Touch可以通過使用您的指尖與其進行交互式工作流程控制。它簡單易學， 大大減少了培訓所付出的努力和成本，甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動化工作流程以執(zhí)行可重復檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。 EVO 擅長于對未經(jīng)處理和沒有導電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài)， 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時，選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對比度和信噪比。 EVO可以作為半自動、多模式工作流程的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并以多種方式收集數(shù)據(jù)，形成信息的完整性。將光學和電子顯微鏡圖像合并起來進行材料表征或零件檢驗，或者將 EVO 與蔡司光學顯微鏡相關(guān)聯(lián)，進行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。 在實際的實驗室環(huán)境中，SEM 的操作通常是顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。但是對于非專家級用戶來說，操作SEM就變得具有挑戰(zhàn)，比如學生、受訓者或質(zhì)量工程師，他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時考慮了這兩類用戶的需求，用戶界面選項既能滿足有經(jīng)驗的顯微鏡專家也能滿足非專業(yè)用戶的操作需要。 專家用戶可以獲取以及設(shè)定高級的成像參數(shù)和分析功能。 SmartSEM: 為有經(jīng)驗用戶使用的控制界面 新手用戶可以使用預定義的工作流程和常用的一些參數(shù)-非常適合初學者。 SmartSEM Touch: 是一款在觸摸屏電腦上運行的簡化圖形用戶界面 相機可以安裝在倉室前方， 以監(jiān)測樣品與背散射探測器以及物鏡底端之間的相對位置(倉室相機)；或安裝在真空室倉門上方 (導航相機)， 利用俯視圖查看樣品臺上樣品的擺放位置。此視圖可用于設(shè)置從光學顯微鏡圖像中識別出的預定義位置， 并在整個樣品測試過程中輕松導航。 EVO實現(xiàn)了對樣品批量自動、無人值守的圖像采集。蔡司自動化智能成像非常適合例行檢測。它使用戶能夠自定義邊界區(qū)域，自動生成所需的視圖或放大倍數(shù)確定的感興趣區(qū)域，并開始自動獲取圖像。自動化智能成像將大大提高樣品的測試效率，以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出。 六硼化鑭陰極相較于傳統(tǒng)的鎢發(fā)夾燈絲所發(fā)射的電子能夠保證您額外所需要的圖像質(zhì)量。這種優(yōu)勢體現(xiàn)在以下兩個方面: 在相等電子探針尺寸 (即分辨率) 下， 有更多探針電流可供使用， 從而使圖像導航和優(yōu)化更容易 在相等的探針電流 (信噪比) 下， 光斑直徑要小得多， 從而提高了圖像分辨率 低加速電壓下高放大倍率的催化劑粒子 (左: 使用鎢燈絲， 右: 使用LaB6燈絲) Shuttle & Find 將EVO、光學顯微鏡和數(shù)碼顯微鏡組成一個關(guān)聯(lián)的、多模態(tài)工作流程 由于蔡司是各種類型顯微鏡和計量系統(tǒng)的優(yōu)秀供應(yīng)商， 所以您還可以將EVO 與蔡司其它解決方案相結(jié)合，使其功能能夠發(fā)揮得更好。 通過使用Shuttle & Find（蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡的軟硬件部分），您可以在（數(shù)碼）光學顯微鏡和 EVO 之間建立一個高效的多模式聯(lián)用的工作流程。將光學顯微鏡的光學對比方法與同樣的掃描電鏡成像和分析方法相結(jié)合， 獲得互補的數(shù)據(jù)， 從而更清楚地去了解樣品的材料、質(zhì)量或失效機理。 如果單采用SEM成像技術(shù)無法全面了解部件或樣品，研究人員就會借助能譜儀（EDS）來采集元素化學成份的空間分布信息。 針對常規(guī)顯微分析應(yīng)用進行了優(yōu)化 工作流程引導的圖形用戶界面 的蔡司服務(wù)和系統(tǒng)支持蔡司 EVO 系列
模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應(yīng)用
真空室尺寸選擇
樣品高度 樣品直徑 電動載物臺行程XYZ 高真空模式 (HV)
導電樣品質(zhì)量的成像與分析擴展壓力模式 (EP)
含水或被污染的樣品在其自然狀態(tài)下成像優(yōu)勢
便捷的可用性
優(yōu)異的圖像質(zhì)量
EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)
適合更多用戶操作
對于經(jīng)驗豐富的以及新手用戶操作都很方便
專家用戶
優(yōu)選用戶界面: SmartSEM
新手用戶
優(yōu)選用戶界面: SmartSEM Touch
智能導航與成像
大大提高樣品的測試效率，以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出
蔡司導航相機
自動化智能成像
將您的研究提升一個層次
使用六硼化鑭電子發(fā)射器能夠獲得更好的圖像
當在具有挑戰(zhàn)性的成像條件下， 使用LaB6燈絲的用戶將有高達10倍的光束亮度， 從而提高了圖像分辨率和對比度。EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)
工作流程自動化和關(guān)聯(lián)顯微鏡的好處
蔡司 SmartEDX
用于常規(guī)SEM顯微分析應(yīng)用的一體化EDS解決方案
SEM和EDS的搭配使用必須經(jīng)過謹慎細致的考量。EVO上的SmartEDX非常適用于常規(guī)顯微分析應(yīng)用，尤其對于數(shù)據(jù)重復性要求高的客戶而言更是理想的選擇。它在129 eV能量分辨率和1-5 nA探頭電流（典型的EVO工作條件）下具有很高的通量。得益于氮化硅窗口的優(yōu)異透過率, SmartEDX更適合于探測到來自輕元素的低能X射線。
SmartEDX旨在提高多用戶環(huán)境中的易用性和工作流程重復性。與其他蔡司工作流程引導的軟件解決方案（如：SmartSEM Touch，ZEN core或EVO 的Shuttle＆Find）一樣，SmartEDX軟件易于學習，使用直觀，并有助于確保在SEM上執(zhí)行分析任務(wù)的重復性，尤其是在多個操作者使用該系統(tǒng)的環(huán)境中。
SmartEDX由蔡司提供支持，因此該EDS解決方案非常適合那些希望精簡分析設(shè)備供應(yīng)商數(shù)量的客戶。所有安裝、預防性維護、保修、診斷和維修、備件物流以及整個系統(tǒng)服務(wù)合同中的內(nèi)容均由蔡司全面負責，為您的SEM分析解決方案提供一站式的的支持。
*您想獲取產(chǎn)品的資料：
個人信息：
