場發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM廠家：日本電子株式會社型號：JEM-2100F技術(shù)參數(shù)：1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm；點分辨率：0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數(shù)：60-1000000；電子槍：Schottly場發(fā)射電子槍

場發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM

廠家：日本電子株式會社

型號：JEM-2100F

技術(shù)參數(shù)：

1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm； 點分辨率：  0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；

2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數(shù)：60-1000000；電子槍：Schottly 場發(fā)射電子槍。

3.高性能的TEM成像、STEM成像和納米分析；

4.配備英國Oxford  X-MAX能譜儀 。

應(yīng)用范圍：

1.應(yīng)用于材料科學、生命科學、醫(yī)療、制藥、半導體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析；

2.各種材料微區(qū)化學成分的定性和半定量檢測；

3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測定；

4.復合材料界面特性的研究。

表征項目：

可進行TEM形貌 ，HRTEM高分辨 ，選區(qū)電子衍射SAED,  STEM-HADDF暗場像 ， EDX元素定量，  Mapping元素分布 ， 點掃描、 線掃描 。

樣品要求：

粉末、液體樣都行；樣品量：粉末樣≥1mg  ，液體樣≥1ml 。