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雙束掃描電鏡Scios 2

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面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 上海瓦克儀器有限公司
品牌
型號
所在地 上海市
廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2024/3/11 23:25:16
訪問次數(shù) 46

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

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FEIScios是一款高分辨率DualBeam分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供二維和三維性能

詳細信息在線詢價

FEI Scios是一款高分辨率DualBeam分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內(nèi)的眾多樣本提供二維和三維性能。FEI Scios 的功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的納米量級研究與分析。

FEI Scios核心技術(shù)。透鏡內(nèi)FEI Trinity能夠同時收集所有信號，既節(jié)省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據(jù)信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態(tài)對比度，即使著陸能量為 20 eV 也是如此。

材料科學應用
Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復合物和涂層等眾多材料，能夠：
>執(zhí)行高分辨率、高對比度成像，對磁性樣本也不例外
>使用Trinity檢測套件同步檢測材料、形態(tài)和邊緣對比度，從而分析材料的全部屬性
>借助漂移抑制光刻，無需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片，甚至可以對非導電材料進行操作
>生成三維數(shù)據(jù)立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布，或?qū)α鸭y各個方向的應力和應變進行分析
>搭配EasyLift可快速可靠地制備高質(zhì)量樣本，而且只需小的電子束能量即可獲得高質(zhì)量的S/TEM結(jié)果
>針對DealBeam常見應用提供“用戶指南”和逐步工作流，使得任何經(jīng)驗水平的操作員都能即刻上手

生命科學應用

有效的生物成像需要使用能夠支持眾多不同應用且不會降低對比度和分辨率的多功能設備。FEI Scios是一款易于使用的儀器，能使您的眾多不同應用和工作流更具靈活性，功能更強大，而且借助高效和增值工作流， Scios能讓您在短時間內(nèi)獲得準確的結(jié)果。