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返回產品中心>Z-scan測試系統(tǒng) _________________________________________________產品介紹Z-掃描系統(tǒng)是研究材料非線性光學特性的有效手段，具有測量速度快、靈敏度高(參見融石英和CS2實例)和易維護等優(yōu)點。該系統(tǒng)可用于測量分析高分子、有機材料、納米粒子和半導體等材料的光學非線性特性, 包括非線性吸收（飽和吸收和反飽和吸收）、非線性折射和克爾效應等。 此外，針對不同尺度的復合納米粒子和微晶等材料，儀器的高靈敏性還適用于考察材料的形態(tài)、結構和濃度對非線性光學特性的影響。
主要參數：
1) 適用激光光源
納秒、皮秒、飛秒激光光源；使用波長取決于用戶激光器探測系統(tǒng)
2) 樣品移動模塊
（全系列標配）移動距離300 mm，移動精度3.125μm主控系統(tǒng)
3) 適用樣品
溶液、薄膜；不同形態(tài)、尺寸和結構的納米材料和微晶等儀器控制和微晶等
4) 光強范圍
取決于所搭配的激光光源的參數（時間寬度和束腰半徑等）
5) 探測系統(tǒng)
標配快速響應的高靈敏度探測器：上升時間約35ns @320-1100nm
6) 隨機程序
標配數據自動化采集和預處理程序
升級選項
1) 激光光源
2) 光斑束腰半徑測量模塊
3) 完整數據處理軟件
4) 頻率選擇模塊
5) 光斑整形模塊
6) 光束指向穩(wěn)定性模塊
7) 基于用戶特定需求的設備升級
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