實(shí)現(xiàn)紫外光譜輻照度的高精度測量

◆ 200-450nm紫外專用測試波段，紫外靈敏度更高，測量精度高

◆ 國家863（高技術(shù)研究發(fā)展計(jì)劃）項(xiàng)目研究成果

◆ 獲美國發(fā)明（號(hào)：US 7,978,324 B2）

◆ "批自主創(chuàng)新產(chǎn)品"，"國家重點(diǎn)新產(chǎn)品"榮譽(yù)

主要功能：

1）可用于測量紫外光源、各燈光源紫外部分的相對(duì)光譜功率分布，峰值波長、半峰帶寬、A1波段（ 320nm-390nm）光譜輻照度、A2波段（UV 365nm）光譜輻照度、B波段波長范圍：（290nm-320nm）光譜輻照度、C波段（UV253.7nm）和特定波段內(nèi)總輻照度等參數(shù)，測量精度高，不受探測器匹配的影響。

2） 光譜分析法是理想的數(shù)字積分方法，不受被測光源光譜分布和探測器響應(yīng)帶寬函數(shù)的影響，是精度高的紫外輻射照度測量方法；

3） HAAS-2000以其高靈敏度和長期穩(wěn)定性等優(yōu)異性能特別適合于精度要求的測量場合，如紫外標(biāo)準(zhǔn)檢測或計(jì)量、光輻射安全測量、紫外領(lǐng)域科學(xué)研究等。