熱輻射計(jì)是用于測(cè)量紅外輻射的檢測(cè)器。 它們對(duì)熱輻射非常敏感，主要用于10至5000µm（30THz至60GHz）的紅外光譜中。
探測(cè)器元件是一種非常敏感的熱敏電阻，為了降低熱本底，它被冷卻到LHe溫度。
撞擊在檢測(cè)器上的任何熱輻射都會(huì)引起溫度變化，這會(huì)導(dǎo)致電阻發(fā)生變化，該變化的電阻被放大并作為電壓差進(jìn)行測(cè)量。
由于輻射熱計(jì)測(cè)量溫度變化，因此必須對(duì)入射輻射進(jìn)行調(diào)制。
這使得輻射熱測(cè)量計(jì)能夠激發(fā)和放松，因此可以測(cè)量對(duì)應(yīng)于入射輻射能量的電阻變化。
應(yīng)用：
傅里葉變換紅外光譜
分子束光譜
強(qiáng)磁場(chǎng)研究
太赫茲研究
參數(shù)規(guī)格：
通用4.2K系統(tǒng)：
我們，用途泛的輻射熱測(cè)量系統(tǒng)同時(shí)也涵蓋了廣泛的應(yīng)用范圍。
它由一個(gè)與2.5mm金剛石吸收器相連的4.2K輻射熱檢測(cè)器元件組成。
它在15至2000µm（20THz至150GHz）的范圍內(nèi)調(diào)制頻率在200至400Hz的范圍內(nèi)。
標(biāo)準(zhǔn)1.6K系統(tǒng)：
與我們的通用4.2K系統(tǒng)類(lèi)似，其光譜響應(yīng)（15至2000µm）具有降低探測(cè)器溫度的附加優(yōu)勢(shì)。
這些好處包括較低的NEP，較高的靈敏度以及快速響應(yīng)時(shí)間的優(yōu)點(diǎn)。 該系統(tǒng)可以在大于1 KHz的調(diào)制頻率下工作。
HI-RES4.2K系統(tǒng)：
該系統(tǒng)提供了較低的熱導(dǎo)率檢測(cè)器和更高的光譜分辨率。 該配置提供了響應(yīng)速度較慢的系統(tǒng)，其調(diào)制頻率保持在200Hz以下。
該系統(tǒng)更靈敏，NEP值比通用4.2K系統(tǒng)低一個(gè)數(shù)量級(jí)。
遠(yuǎn)紅外1.6K系統(tǒng)：
專(zhuān)門(mén)配置為檢測(cè)存在于紅外光譜較長(zhǎng)波長(zhǎng)中的能量較低的信號(hào)，并且在300µm至5mm的范圍內(nèi)表現(xiàn)良好。
與我們的其他輻射熱測(cè)量系統(tǒng)相比，它的導(dǎo)熱系數(shù)非常低。 這有助于提供更長(zhǎng)的時(shí)間以捕獲低信號(hào)強(qiáng)度，并且在低于300Hz的調(diào)制頻率下運(yùn)行
