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納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800應用光干涉現象，對微細的表面形貌進行測量，可實現高性能薄膜、半導體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能以無損傷方式進行多層膜的層結構以及層內部的異物測量。
納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800應用光干涉現象，對微細的表面形貌進行測量，可實現高性能薄膜、半導體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能以無損傷方式進行多層膜的層結構以及層內部的異物測量。
隨著材料不斷趨向平坦化、薄膜化及結構的微細化，人們開始要求比傳統(tǒng)的普通SPM（掃描探針顯微鏡）、觸針式粗糙度測量儀及激光顯微鏡等產品更高的測量精度。相比較利用光干涉原理的白光干涉掃描顯微鏡，納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800，使用更方便，測量精度跟高，測量范圍更大。此外，傳統(tǒng)的采用線粗的測量方式仍存在“測量位置導致的結果偏差”和“掃描方向導致的結果偏差”等重大課題。VS1800的解決對策是通過參照標準ISO25178規(guī)定的表面形貌評估方法來計算參數，建立測量表面形貌的新標準，從而受到了各界的關注。
原子力顯微鏡的納米尺度3D探針測量系統(tǒng)AFM5500M同樣可實現高度的分辨率為0.1nm以下，與此相比，納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800的一大特點在于面內方向的測量范圍更大。發(fā)揮兩種測量系統(tǒng)各自的優(yōu)點，根據需求選擇的測量系統(tǒng)有利于生產率的提高。
Wafer研磨表面形貌（表面粗糙度Sa 0.58 nm）
| 機型 | Type 1 | Type 2 | Type 3 | |
|---|---|---|---|---|
| Z軸 | 馬達驅動 | 標配（Z軸移動范圍～10㎜） | ||
| PZT驅動 | 新增選配（Z軸移動范圍～150 μm） | |||
| XY樣品臺 | 驅動方式 | 手動 | 電動 | |
| 移動范圍 | ± 50 mm | ± 75 mm | ||
| 樣品臺尺寸 | W205 × D150 mm | W225 × D225 mm | ||
| 測角臺 | 驅動方式 | 手動 | 電動 | |
| 移動范圍 | ± 2° | ± 5° | ||
| 測量相機 | 標準相機或高像素相機 | |||
| 鏡筒 | × 1或 × 0.5 | |||
| 變焦透鏡 | × 0.7透鏡（新增選配） | |||
| 物鏡 | × 2.5 × 5 × 10 × 20 × 50 × 110 | |||
| 樣品高度 | 標準 | 0～50 mm | ||
| 使用加高配件時 | 50～100 mm | 0～100 mm | ||
| 電腦OS | Windows 10 | |||
| 減震臺（帶支架） | 被動式或主動式 | |||
| 標配 | 新增選配 | |
|---|---|---|
| 測量軟件 | 表面形貌測量 | 大傾斜角測量 |
| 分析軟件 | ISO參數（參照ISO25178） 輪廓分析、頻帶分解 負荷曲線分析、顆粒分析 熱歐姆轉換、線段分析 | 界面分析、層面分析 截面面積、線測量 |
在材料，加工行業(yè)廣泛經營的紙質產品及樹脂產品，為滿足所要求的功能，均作了各種各樣的研究。因此，表面形貌及表面粗糙度的測量在質量管理方面起著關鍵作用。此外，當多層膜等產品出現不良時，需要查明表面、界面或層內哪個部位出現問題，并且很多情況下根據不同樣品，還要求進行無損傷測量。
下面介紹材料加工行業(yè)中使用納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800進行各種測量的實例。
顯示器用薄膜的表面作了各種加工，以保持防反射、防止指紋造成的污染等功能性。VS1800不僅針對平滑的薄膜表面，對于像亞光膜表面那樣凹凸不平的樣品，也能以較高的重現性進行測量。 
顆粒填料用于改善表面的防眩性，以及控制與其他表面粘合的性能，其形狀、大小及密度等的測量是*的項目。VS1800不僅可以觀察形狀，還能利用大小及數量等的分析功能進行評估。 
包裝膜通過層壓具有阻隔性等功能的材料層，防止內裝物劣化。因此，比如了解該材料層的膜厚是否可以表現其功能等，對材料各層的膜厚管理非常重要。VS1800不僅可以評估表面粗糙度，還能以無損傷方式顯現層內部的結構，評估各層的厚度及厚度不均勻程度，因此有助于包裝膜的質量管理。
測量實例1 
測量實例2 
無論表面是什么材質，VS1800都能以較高的分辨率測量高度，對于如高分子材料之類透明薄膜的高差等也能進行高精度測量。 此外，關于VS1800的界面分析，對于透明材料多層層壓時發(fā)生的氣泡不良等現象，能以無損傷方式進行評估，因此無需制作截面，即可確認哪個層發(fā)生了異常。
測量實例1 玻璃基板上高分子膜的高差 
測量實例2 膠帶粘貼面 
VS1800具有發(fā)揮高速、高分辨率功能的“標準測量模式”，以及可測量光反射微弱的斜面之“大傾斜角測量模式”，除了像光面紙之類的平滑表面，還能對名片表面等粗糙的纖維材質表面進行測量，測量范圍廣泛。
測量實例1 光面紙 
測量實例2 名片印刷面 
多層膜的表面或背面、甚至內部都很可能會發(fā)生各種不良現象。要弄清不良原因，為了保持發(fā)生異常時的狀態(tài)，必須實施無損傷測量。 納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800采用無損傷非接觸測量方式，實現了高度分辨率優(yōu)異的表面形貌及膜厚測量，下面介紹使用測量系統(tǒng)VS1800測量薄膜異常部位的相關實例。
使用納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800進行測量，能夠發(fā)現異常部位的線形凹陷（a），并測量出其寬度及深度（b）。
此外，VS1800能以無損傷方式進行界面分析。
觀察界面分析結果（c），可確認到與樣品結構（e）一樣在深度方向有4條水平線。尤其可以看到中間薄層②的厚度分布出現不均勻現象。亮點（d）為層②的不均勻部分，此處的干涉強度變化顯著，可推斷是氣泡。
使用納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800進行測量，能夠確認到異物混入部位呈山形隆起，并測量出其寬度及高度。(b)(c)
從界面無損傷分析的結果（c）可以看出，層②的厚度分布存在不均勻現象，主要在表面的凸起異常部位出現大幅度隆起。
而且在有隆起部位的層②及層③的界面上，可以確認到干涉間斷的區(qū)域。從該干涉間斷可以推斷混入的異物阻擋了光線。
隨著各種電子零配件實現微細化，電鍍越來越趨向薄膜化。在電鍍的質量管理方面，要求采用更精確、更精密的分析方法。 掃描探針顯微鏡具有Z軸分辨率較高的特點，而另一方面觀察范圍被限制得很窄。此外，使用普通的光學觀察儀器可以進行更大視野范圍的觀察，但是Z軸分辨率會降低。
納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800兼具面內方向的大觀察視野及高度方向的高分辨率兩大特點，因此對于像電鍍線之類較大的高差形狀及其表面粗糙度，均可進行簡單方便的測量。
根據不同的用途及目的，電鍍表面可能會施加表面處理，一般的表面觀察方法有SEM觀察。
通過SEM圖像，能夠清楚地顯現出表面性狀的不同，一般SEM所獲信息屬于二維圖像，因此很難高精度測量立體特征。
關于在電鍍Ni表面施加了粗化處理的樣品，使用FlexSEM 1000（SEM）以及AFM5500 M（AFM）、VS1800（納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)/CSI）進行觀察及測量所得結果如圖所示。
對比FlexSEM 1000/AFM5500 M的觀察及測量結果，可了解到SEM觀察的形狀在AFM測量結果中也能看到同樣的捕捉信息。此外，還可看出AFM與CSI的算術平均粗糙度Sa顯示幾乎相同的數值，納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)可同樣測量出AFM所捕捉的微細形狀。由此可知，如果使用具有高空間分辨率的AFM，則可以交叉檢查CSI數據。納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)發(fā)揮高速測量的優(yōu)點，有利于提高多個樣品的測量速度，另外如前所述，通過增加用SEM及AFM進行觀察和測量，可實現多方面評估。
件的低磨損性需求，要求進行更精確、更精密的摩檫學性能評估。納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800可以采用單次自動對焦，在大范圍區(qū)域實現納米尺度的粗糙度測量。在摩檫學性能評估中，根據三維測量結果進行負荷曲線分析，從而可以計算出磨損量（面積以及體積），由此可實現定量評估。
下面介紹將新油和劣化油用于金屬滑動試驗的測試結果。
圖1和圖2分別是使用新油和劣化油的情況下測量滑動痕形貌的結果。比較各圖的滑動部位表面形貌及截面圖，可以看到使用劣化油時的滑動痕深度大約是使用新油時的6倍，滑動方向上出現了明顯的條紋狀削痕。
圖1 使用新油時的形貌測量結果 
圖2 使用劣化油時的形貌測量結果 
然后進行負荷曲線分析。進行分析時，針對因磨損而被削掉的區(qū)域，可使用高度閾值對等高線圖像進行二值化處理，計算出面積以及體積，并可定量評估磨損量。
圖3 使用新油時的負荷曲線分析結果 
圖4 使用劣化油時的負荷曲線分析結果 
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