PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測量原理測量地表微地貌高程，采用激光掃描獲取各點高程，測量精度可以達到亞毫米級，測量過程無需接觸土壤表面，解決了測針法對土表擾動的弊端，測量結果更可靠，能準確反映地表微地貌的細微變化。

用途：PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測量原理測量地表微地貌高程，采用激光掃描獲取各點高程，測量精度可以達到亞毫米級，測量過程無需接觸土壤表面，解決了測針法對土表擾動的弊端，測量結果更可靠，能準確反映地表微地貌的細微變化。

原理及應用：利用線性激光的反射與CCD成像原理，將地表形態(tài)轉換成不同物象點位置的電信號，再經(jīng)計算機軟件處理成數(shù)字高程模型（DEM），進而評價土壤侵蝕程度或進行相關機理研究。相對于PLS代產(chǎn)品，掃描速度更快，精度更高，采用筆記本電腦采集數(shù)據(jù)，野外使用更加方便。

應用領域：

■土表微地貌特征評價指標篩選與算法實現(xiàn)

■連續(xù)降雨過程中土表微地貌特征演變

■不同粗糙度土表粗糙度模型建立

■不同坡度剖面侵蝕及侵蝕泥沙分布

實測圖：

技術參數(shù)：

■剖面分辨率：0.5 mm

■垂直分辨率：0.1 mm

■測量寬度：60 cm

■測量長度：大3 m

■每分鐘可掃描大于400個剖面

■實驗室和野外都可使用

■沒有土壤類型限制

■數(shù)據(jù)為XYZ 高程或矩陣數(shù)據(jù)

儀器配置：

產(chǎn)地：美國