親眼見證創(chuàng)新4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成的參數分析儀，可以同步查看電流電壓 ( I - V )、電容電壓 ( C - V ) 和超快速脈沖式 I-V 特性。作為性能的參數分析儀，4200A-SCS 加快了半導體、材料和工藝開發(fā)速度。

4200A-SCS Clarius^TM 基于 GUI 的軟件提供了清楚的、不折不扣的測量和分析功能。憑借嵌入式測量專業(yè)知識和數百項隨時可以投入使用的應用測試，Clarius Software 可以更深入地挖掘研究過程，快速而又滿懷信心。

4200A-SCS 參數分析儀可以根據不同用戶需求進行靈活配置，不管是現在還是未來，都可以隨時對系統(tǒng)進行升級。通過 4200A-SCS 參數分析儀，通往發(fā)現之路現在變得異常簡便。

一、 功能

l 參數查看，快速清晰

4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。另外，嵌入式測量專業(yè)知識（業(yè)界）可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。特點如下：

· 內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

· 使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試

· 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

l 測量、 切換、 重復

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現錯誤的結果時輕松排除故障。特點如下：

· 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

· 用戶可配置低電流功能

· 個性化輸出通道名稱

· 查看實時測試狀態(tài)

l 檢定、 自定義、 大化

簡單地說，4200A-SCS 可以*自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。特點如下：

· NBTI/PBTI 測試

· 隨機電報噪聲

· 非易失內存設備

· 穩(wěn)壓器應用測試

l 帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。特點如下：

· “點擊”測試定序

· “手動”探測器模式測試探測器功能

· 假探測器模式無需移除命令即可實現調試

l 降低成本并保護您的投資

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