技術(shù)特點(diǎn)
 
·         適用于研究開發(fā)各種材料和薄膜材料電阻系數(shù)
·         高級(jí)應(yīng)用程序控溫技術(shù)，實(shí)時(shí)溫度程序同步掃描
·         自由升/降溫、精確控制溫度程序，進(jìn)行升溫、恒溫與降溫過程中的數(shù)據(jù)測(cè)量   
·         自動(dòng)壓力安全保護(hù)設(shè)計(jì)，確保測(cè)試過程中不會(huì)發(fā)生爆炸
·         試樣支架采用*的接觸式平衡機(jī)構(gòu)，保證測(cè)量的高重現(xiàn)性
·         可選原片狀樣品測(cè)量系統(tǒng)
·         可選高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差

甄選供貨商，保證系統(tǒng)品質(zhì)達(dá)到！

CRA系統(tǒng)硬件組成：

美國吉時(shí)利 Keithley（數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)）
德國 W.HALDENWANGER （高溫陶瓷系統(tǒng)）
英國摩根Morgan（高溫特種材料）
美國通用電氣GE（光波加熱元件）
英國歐陸（調(diào)控器）
日本IKO （精密軸承）
 

測(cè)試性結(jié)構(gòu)圖
 
圓柱形或棱形樣品垂直放置在兩電極之間，同時(shí)整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)設(shè)置于一個(gè)加熱爐內(nèi)。加熱爐加熱樣品到預(yù)定的溫度，在此溫度下， 直流電四端法測(cè)量電阻，樣品兩端通入恒定電流，測(cè)量樣品的電壓變化， 可以計(jì)算出電阻系數(shù)。