Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)
  嚴格質(zhì)量保證與質(zhì)量控制下，獲得300毫米性能探測
   Bruker公司的新型Dektak XTL™探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多達350毫米x350毫米的樣品，將Dektak®優(yōu)異的可重復性和再現(xiàn)性應用于大尺寸晶片及面板制造業(yè)。Dektak XTL集成氣體隔震裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環(huán)境下運行，是當今要求苛刻的生產(chǎn)環(huán)境的理想之選。
   它的雙攝像頭設置使空間感增強，其高水平自動化可大限度提高生產(chǎn)量。Bruker公司*的具有圖形識別功能的Vision64®生產(chǎn)接口可滿足用戶需求，使數(shù)據(jù)采集成為一個自主的和可重復的過程，大限度地降低操作員的變化帶來的影響。
   Dektak XTL已經(jīng)針對持續(xù)生產(chǎn)工作時間和大生產(chǎn)量在工藝開發(fā)和質(zhì)量保證與質(zhì)量控制應用方面進行了全面優(yōu)化，將本產(chǎn)品設計為業(yè)界易使用的探針式輪廓儀。
Dektak XTL產(chǎn)品特性
Bruker公司*的雙攝像頭控制系統(tǒng)™
1.通過點擊實時視頻更快鎖定到關注點
2.通過選擇實時視頻中的兩個點快速定位樣品（自動旋轉(zhuǎn)使連線水平）
3.通過在實時視頻中點擊掃描起始和結束位置簡化測量設置（教學）
可靠的自動化設置和操作
1.借助300毫米的自動化編碼XY工作臺以及360度旋轉(zhuǎn)能力，精確編程控制無限制測量位置。
2.利用帶圖形識別功能的Vision64位產(chǎn)品軟件減少使用中的定位偏差
3.將自定義用戶提示以及其它元數(shù)據(jù)編入您的方案中，并存儲到數(shù)據(jù)庫內(nèi)
方便的分析和數(shù)據(jù)采集
1.快速分析儀支持大部分常用分析方法，可輕松實現(xiàn)分析程序自動化
2.通過臺階檢測功能將分析集中于復雜樣品上感興趣的特征
3.通過賦予每個測量點名稱并自動記錄到數(shù)據(jù)庫來簡化數(shù)據(jù)分析
4.Dektak在大樣品制造業(yè)中的傳奇性能
業(yè)界的自動分析軟件

   新增軟件功能使Dektak XTL成為市面上大、易使用的探針式輪廓儀。系統(tǒng)使用的Vision64軟件,與Bruker公司的光學輪廓儀*兼容。Vision64軟件可以進行樣品任何位置測量、3D繪圖以及借助數(shù)百個內(nèi)置分析工具實現(xiàn)的高度定制表征方法。也可以使用Vision Microform軟件來測量曲率半徑等形狀。

*的探針式檢測技術
   圖形識別功能可以盡量減少操作員誤差并提高測量位置精度。在同一軟件包內(nèi)，以直觀流程進行數(shù)據(jù)采集和2D、3D分析。每個系統(tǒng)都帶有Vision軟件許可證，可在裝有Windows7操作系統(tǒng)的個人電腦上安裝，用戶可在電腦桌面上創(chuàng)建數(shù)據(jù)分析和報告。

Dektak XTL擁有超過40年的探針專業(yè)經(jīng)驗和軟件定制生產(chǎn)經(jīng)驗，符合現(xiàn)在和未來的嚴格的行業(yè)發(fā)展藍圖。

  

300毫米高精度編碼XY工作臺為制造商提供可靠工具，滿足嚴格的可重復性和再現(xiàn)性要求。Dektak雙攝像頭控制系統(tǒng)裝有俯視攝像頭以及高倍率側視攝像頭，使空間感增強；通過在視頻上點擊定位使操作者能夠快速調(diào)整樣品至正確位置，以便進行快速簡單的測量設置和自動化編程。系統(tǒng)方便使用的連鎖門使樣品裝載和卸載更加安全快捷。其它硬件特性包括：

1.為達到極低噪音水平而使用的單拱結構和集成隔離結構
2.可快速更換和自動校準的探針
3.為加速自動數(shù)據(jù)采集而使用的高精度編碼XY工作臺

4.N-Lite低作用力時候采用Soft Touch 技術與1mm測量范圍同時使用，可進行精細、高垂直范圍樣品測量

大幅面應用的關鍵成果
   憑借其*性能和易用性的*結合，Dektak XTL成為新的質(zhì)量保證/質(zhì)量控制的研究標準，它被應用于觸摸面板、太陽能板、平板顯示器和半導體行業(yè)的工業(yè)薄膜沉積監(jiān)測。
晶片應用：
沉積薄膜（金屬、有機物）的臺階高度
抗蝕劑（軟膜材料）的臺階高度
蝕刻速率測定
化學機械拋光（腐蝕，凹陷，彎曲）
大型基板應用：
印刷電路板（凸起、臺階高度）
窗口涂層
晶片掩模
晶片卡盤涂料
拋光板
玻璃基板及顯示器應用：
AMOLED
液晶屏研發(fā)的臺階步級高度測量
觸控面板薄膜厚度測量
太陽能涂層薄膜測量
柔性電子器件薄膜：
有機光電探測器
印于薄膜和玻璃上的有機薄膜
觸摸屏銅跡線
探針式輪廓儀系統(tǒng)Dektak XTL技術參數(shù)
軟件選項:自動圖形識別；高級軟件界面
隔振:高性能隔振，無源氣動空氣隔離器
掃描長度范圍:300mm
每次掃描覆蓋的數(shù)據(jù)點數(shù):120,000，大
大樣品厚度:50mm
大晶片尺寸:300mm
大樣品體積:350mm
步級高度再現(xiàn)性:<5埃@0.1微米高度標樣，1標準偏差
垂直范圍:1mm
垂直分辨率:大1埃（@6.55μm范圍）
輸入功率:100到240VAC，50到60Hz
溫度范圍:20°到25°C（68°至77°F）工作范圍
濕度范圍:≤80％，無冷凝
系統(tǒng)尺寸和重量:978毫米（38.5英寸）寬x954毫米（37.6英寸）深x1714毫米（67.5英寸）高；272kg (600lbs)