華測(cè)生產(chǎn)的電弱點(diǎn)測(cè)試儀經(jīng)過(guò)嚴(yán)酷的實(shí)踐驗(yàn)證，穩(wěn)定可靠，目前廣泛應(yīng)用于電氣絕緣材料的電弱點(diǎn)性能測(cè)試
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
儀器采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話方式。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。電氣用塑料薄膜的生產(chǎn)過(guò)程中，會(huì)出現(xiàn)薄膜穿孔、導(dǎo)電顆粒積聚、劃傷等影響電氣性能的電弱點(diǎn)。根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。設(shè)計(jì)的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無(wú)須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生 過(guò)程中極易引起縱向劃傷，該儀器*引用“電 弱線”概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電 流均超過(guò)1mA時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過(guò) 程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線”，測(cè)試儀統(tǒng) 計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和，這 樣的測(cè)試數(shù)據(jù)史能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)顯水平， 且有助于分析生產(chǎn)過(guò)程中存在的問(wèn)題，從而有針對(duì)地提出解決問(wèn)題的方案。
主要特點(diǎn):
1、能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
2、測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
3、主要元器件均選用進(jìn)口品牌（如歐姆龍，美信，ABB等），有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。
4、測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。
5、測(cè)試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。
6、擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
7、多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的安全性。
8、過(guò)壓、過(guò)流、接地保護(hù)，試驗(yàn)平臺(tái)門(mén)開(kāi)啟保護(hù)。
符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 13542-2009《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》
IEC 60674-2:1988《電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置》
JB 3282《固體絕緣材料相對(duì)耐表面放電擊穿性能試驗(yàn)方法》
主要配件生產(chǎn)廠家：
變壓器：武高所監(jiān)制
控制系統(tǒng)：德國(guó)西門(mén)子PLC
升壓系統(tǒng):spwm華測(cè)
繼電器：施耐德
電流傳感器：華測(cè)開(kāi)發(fā)
電壓傳感器：松野
過(guò)壓、過(guò)流系統(tǒng)： 華測(cè)開(kāi)發(fā)
TVS防護(hù)：華測(cè)開(kāi)發(fā)
儀器參數(shù)
試驗(yàn)電壓 | 0～5000V （AC、DC） | 輸入電壓 | 220V |
電壓精度 | ±1% | 有效測(cè)量范圍 | 0～5kV（ACDC） |
保護(hù)電流 | 0～40mA | 電流精度 | ±1% |
膜移動(dòng)速度 | 3-10m/min 連續(xù)可調(diào) | 試樣寬度 | 60～650mm(可調(diào)) |
高壓防護(hù) | TVS | 升壓方式 | SPWM |
控制系統(tǒng) | 嵌入式工控機(jī) | 控制方式 | 觸摸屏 |
功率 | 1kW | 數(shù)據(jù)傳輸 | 2個(gè)USB接口 |
儀器尺寸 | 220 mm x 230 mm x 70 mm | 供電方式 | 220V（50HZ） |
更多安全防護(hù)
TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)：
次儀器大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對(duì)于電弧放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測(cè)獨(dú)立開(kāi)發(fā)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。
低通濾波電流監(jiān)測(cè)技術(shù):
高壓壓放電過(guò)程中將產(chǎn)生高頻信號(hào)。而無(wú)論是國(guó)產(chǎn)與進(jìn)口電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過(guò)程中無(wú)法將高頻信號(hào)處理時(shí)，從而造成檢測(cè)不準(zhǔn)確。無(wú)論是采用磁通門(mén)或霍爾原理所設(shè)計(jì)的傳感器存在材料產(chǎn)生弱點(diǎn)后后瞬間輸出電壓或電流信號(hào)過(guò)大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測(cè)開(kāi)發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號(hào)進(jìn)行相應(yīng)處理。同時(shí)華測(cè)自主開(kāi)發(fā)的保護(hù)模塊來(lái)保證采集精度與保護(hù)采集元件.
雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：
采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電弱點(diǎn)儀器，此儀器不僅具備過(guò)壓、過(guò)流保護(hù)系統(tǒng)，它*的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問(wèn)題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。
電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
