分析優(yōu)勢(shì):
• 快速分析 F到U之間的元素
• 靈敏度從 <1 ppm -100%
• 多元素的測(cè)量時(shí)間10-60秒
• 多達(dá)8種的設(shè)置條件同時(shí)選擇，應(yīng)用于各種樣品的多元素分析
• 通過(guò) CCD 照相機(jī)顯示樣品影像
• 可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應(yīng)不同樣品大小
• *的電制冷Si(Li)檢測(cè)器技術(shù)和數(shù)字脈沖處理器技術(shù)
• Wintrace 多元化的 XRF 應(yīng)用軟件，多個(gè)報(bào)告輸出選項(xiàng)
• 高級(jí)無(wú)標(biāo)樣 厚度和涂層分析
• 專有的UniQuant 無(wú)標(biāo)樣分析技術(shù)
• 機(jī)械持久性，可保證長(zhǎng)期的*使用，占地面積小，機(jī)動(dòng)性好
• 可以為客戶定制應(yīng)用并在線升級(jí)， 易于安裝維護(hù)

探測(cè)器內(nèi)部的-*技術(shù)
作為一個(gè)有著超過(guò)40年經(jīng)驗(yàn)的X射線探測(cè)器制造商，本公司深入了解并定義了探測(cè)器性能的關(guān)鍵參數(shù)。經(jīng)歷了4代探測(cè)器的技術(shù)創(chuàng)新，硅鋰Si(Li)探測(cè)器成為ARL QUANT´ X 的心臟 ，提供了高靈敏度，速度和可靠性。
• 更低的晶體溫度提供了更佳的分辨率
• 更厚的晶體可獲得更佳的探測(cè)性能
• 大的晶體面積可獲得更佳的檢測(cè)下限

功能強(qiáng)大、易于使用的 WinTrace*軟件
• 無(wú)標(biāo)和半無(wú)標(biāo)分析
• 基本參數(shù) (FP) 和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)方法
• 多層厚度及成分
• 不限元素、不限數(shù)量的標(biāo)樣
• 利用自動(dòng)化操作實(shí)現(xiàn)多個(gè)激發(fā)條件