概述：

    一臺(tái)測(cè)量范圍涵蓋了RoHS/ELV分析及其他專業(yè)分析的能量色散型X射線熒光分析儀。配備有獨(dú)自開發(fā)的

    無(wú)需液氮的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器「Vortex」及全新設(shè)計(jì)的X射線發(fā)生系統(tǒng)，使得檢測(cè)靈敏度較從前提升了10倍

    以上。因此，也縮短了0.5mm~1.2mm的微小區(qū)域的測(cè)量時(shí)間。通過(guò)提升微小區(qū)域的測(cè)量靈敏度以及配合了

    高速電動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)了二維元素掃描成像的快速化。

主要特點(diǎn)：

  1.快速掃描測(cè)量
    通過(guò)提升微小區(qū)域的測(cè)量靈敏度以及配合了高速電動(dòng)平臺(tái)，可快速獲得二維元素掃描圖像。

    特別是強(qiáng)化了對(duì)線路板中鉛的掃描測(cè)量能力，配備了鉛掃描的濾波器?？蓲呙铏z測(cè)出

    無(wú)鉛焊錫中1,000ppm以下的鉛。

  2.寬視野高清晰度的光學(xué)系統(tǒng)
    可獲得250mm×250mm的20μm以下的高清晰度光學(xué)影像。從該光學(xué)影像可以精確測(cè)量位置，

    儀器的操作性得到了飛躍般的提升。此外，該光學(xué)影響還能和掃描后獲得的影像進(jìn)行重疊，從

    而實(shí)現(xiàn)了高精度的圖像解析。

  3.快速測(cè)量微小區(qū)域的微量金屬
    通過(guò)所配備的高密度微小X射線束和高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器，以及充分考慮到X射線熒光檢測(cè)效率的設(shè)計(jì)，

    實(shí)現(xiàn)了測(cè)量的高靈敏度?？啥虝r(shí)間測(cè)量微小區(qū)域的微量金屬或薄膜。僅需100秒左右的時(shí)間就可檢

    測(cè)出1mm×1mm微小區(qū)域中的有害物質(zhì)

  4.無(wú)需液氮的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器
    標(biāo)準(zhǔn)配備了精工納米獨(dú)自研發(fā)設(shè)計(jì)無(wú)需液氮的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器Vortex。免去了繁瑣的液氮補(bǔ)給過(guò)程。

    開機(jī)時(shí)間也僅為短短數(shù)分鐘，電子冷卻系統(tǒng)更是值得信賴。減少了液氮在制造、運(yùn)輸時(shí)產(chǎn)生的二氧化

    碳的排放，同時(shí)因?yàn)楦咝实臋z測(cè)速度而減少了電力的消耗，是一款環(huán)保型的儀器的因?yàn)榭梢栽谡婵?/span>

    環(huán)境下測(cè)量，所以測(cè)量范圍擴(kuò)大為Na～U。（選配）。

  5.連續(xù)測(cè)量
    從所取得的寬視野樣品觀察畫面到樣品臺(tái)上的樣品可zui多記錄500個(gè)樣品位置，可對(duì)不同測(cè)量條件的

    樣品進(jìn)行連續(xù) 測(cè)量。

  6.微小區(qū)域的鍍層厚度測(cè)量
    只需10秒左右的時(shí)間，便可對(duì)0.2mm×0.2mm大小的Au/Ni/Cu（金/鎳/銅）等薄膜多層鍍層的鍍層厚度

    進(jìn)行高精度 測(cè)量。同時(shí)也可以對(duì)無(wú)鉛焊錫鍍層或化學(xué)鎳鍍層中含有的微量鉛進(jìn)行分析測(cè)量。

產(chǎn)品規(guī)格：