Park XE7
創(chuàng)新研究的經(jīng)濟(jì)之選

Park XE7
創(chuàng)新研究的經(jīng)濟(jì)之選
 
的高性能
在同級產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來zui高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。
滿足當(dāng)前和未來需求
在Park XE7的幫助下，現(xiàn)在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業(yè)內(nèi)zui全面的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求，也考慮到未來不斷變化的需求。再者，XE7具有市場上zui為開放性的設(shè)計(jì)，允許您整合其他附件和儀器，從而滿足您特殊的研究需求。
易于使用和高生產(chǎn)率
Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動(dòng)化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7能夠全力推動(dòng)研究效率的提高。。
經(jīng)濟(jì)實(shí)惠超越了系統(tǒng)成本
Park XE7不僅僅是zui高性價(jià)比的研究級原子力顯微鏡，也是使用成本zui低的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact™模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針*，并且它配有業(yè)內(nèi)zui多的掃描模式，兼容性，讓您可隨時(shí)升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命。Park XE7配有Park Systems的所有*技術(shù)，而且價(jià)格十分親民。XE7在細(xì)節(jié)的設(shè)計(jì)上也相當(dāng)用心，是幫助您準(zhǔn)確且不超預(yù)算地完成研究的理想之選。
  
*　技術(shù)參數(shù)
 
XY掃描器

   閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器。

掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選  100 μm×100 μm, 10 μm×10 μm )
 
Z掃描器
柔性引導(dǎo)高力度掃描器
掃描范圍: 12 μm (可選 25 μm)
 
  樣品臺
  XY臺工作范圍: 13 × 13 mm
  Z臺工作范圍: 29.5 mm
  聚焦臺工作范圍: 70 mm
 
 
 光學(xué)系統(tǒng)
可觀察樣品和探針的直視同軸光學(xué)系統(tǒng)
10X 物鏡 (可選20X）
視場: 480 × 360 μm 
CCD: 1M像素（像素分辨率: 0.4 μm）
 
  電路系統(tǒng)
高性能DSP : 600 MHz with 4800 MIPS
 zui大圖像尺寸: 4096 x 4096像素, 16個(gè)數(shù)據(jù)圖像
 信號輸入： 在500kHz取樣時(shí), 16位ADC的20個(gè)通道
 信號輸出： 在500kHz取樣時(shí), 16位ADC的21個(gè)通道
 同步信號 ：圖像結(jié)束, 線結(jié)束及像素結(jié)束TTL信號
 主動(dòng)Q控制(選配)
 懸臂梁彈性常數(shù)校準(zhǔn)(選配)
 CE Compliant
 電源 : 120 W
 信號處理模塊 (選配)