X射線熒光鍍層測(cè)厚儀可以同時(shí)間測(cè)量多至層鍍層、或進(jìn)行多至5元素的合金分析、又或是zui多測(cè)量?jī)蓚€(gè)正離子的藥水濃度測(cè)量分析。采用數(shù)學(xué)FP法，采用激光自動(dòng)對(duì)焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對(duì)焦時(shí)造成一起的損壞。帶測(cè)量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測(cè)試工件和不同測(cè)量距離上實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)便測(cè)量的可能性。在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡(jiǎn)化了測(cè)量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測(cè)量?？蛇m用于各種樣品，從較厚的樣品（機(jī)械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件、表、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產(chǎn)品中的小五金零件等等等 。
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀主要特點(diǎn)
★搭載樣品尺寸的兼容性，能夠通過(guò)一臺(tái)儀器測(cè)量，從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品
★具有焦點(diǎn)距離切換功能，適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測(cè)量
★彩色CCD攝像頭，通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。
鍍層測(cè)厚儀X-Strata920特點(diǎn)：
可測(cè)元素：鈦Ti22---鈾U92間各元素；
可測(cè)鍍層：5層鍍層(含基材層)，15種元素共存校正；
測(cè)量時(shí)間約10秒，快速得出測(cè)量結(jié)果；
測(cè)量結(jié)果精確到微英寸；
測(cè)量結(jié)果報(bào)告可包含：數(shù)據(jù)、被測(cè)樣品點(diǎn)圖片、各種統(tǒng)計(jì)報(bào)表、客戶信息；
提供貴重金屬分析和金純度檢查(即Au karat評(píng)價(jià))；
提供NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片；
享有的服務(wù)與支持。
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀測(cè)厚范圍：取決于具體的應(yīng)用。
X射線熒光鍍層測(cè)厚儀測(cè)量精度：
膜厚≤20μin(0.5um)時(shí)，測(cè)量誤差值為：*層±1μin，第二層±2μin，第二層±3μin
膜厚＞20μin(0.5um)時(shí)，測(cè)量誤差值為：*層±5%，第二層±10%，第二層±15%
