普析XD6/7系列衍射儀，用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)，測(cè)角儀掃描半徑可在150——285mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)。

　　普析XD6/7系列衍射儀

　　儀器介紹

　　普析XD6/7系列衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)，測(cè)角儀掃描半徑可在150——285mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)。該功能使得用戶可以在儀器測(cè)角分辨率和測(cè)試衍射線強(qiáng)度之間進(jìn)行均衡選擇，自行設(shè)定需要的試驗(yàn)條件，滿足不同情況試驗(yàn)需求。為了提高實(shí)驗(yàn)效率，XD6提高了快速轉(zhuǎn)動(dòng)速度，達(dá)到1800°/min。

　　普析XD6/7系列衍射儀主要特點(diǎn)

　　• 具備照射光斑面積恒定掃描功能模式。在對(duì)樣品進(jìn)行衍射圖譜全圖連續(xù)測(cè)試掃描情況下，可極大增強(qiáng) 中高角度衍射峰峰強(qiáng)，降低定性檢索受干擾的程度，提高定量分析的準(zhǔn)確性；

　　• 精度高，重現(xiàn)性達(dá)到 0.0005°、測(cè)量重復(fù)性 0.001°、zui小步進(jìn)角度 0.0001°；

　　• zui快 1800° /min 的測(cè)角儀轉(zhuǎn)動(dòng)速度，極大提高連續(xù)多樣品測(cè)試的效率；

　　• 全新的機(jī)柜外觀，*的安全性，機(jī)柜外輻射劑量低于 0.2μSv/h。