ARL X’TRA衍射儀是精美的粉末X-射線衍射分析系統(tǒng)：全新工藝設(shè)計(jì)的測(cè)角儀和Peltier半導(dǎo)體溫差制冷Si(Li)固體檢測(cè)器的結(jié)合使該儀器具有高性能價(jià)格比。

功能包括：定性和定量物相分析,Rietveld 法無標(biāo)樣定量分析,結(jié)晶分析,低溫和高溫X-射線衍射

ARLX'TRAX是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用的高質(zhì)量粉末衍射應(yīng)用的儀器

 ARLX'TRA是Thermo的粉末衍射系統(tǒng)，融合了25年XRD生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)和的工藝設(shè)計(jì)。ARL X¢TRA具有優(yōu)良的性價(jià)比，適用于學(xué)術(shù)研究、化學(xué)、醫(yī)藥、聚合物、半導(dǎo)體、薄膜、金屬和礦物等方面應(yīng)用。

 利用立式q:q測(cè)角儀，該儀器便利于樣品制備、樣品交換器更替和特殊樣品架的使用，為處理粉末樣品提供便利的衍射幾何學(xué)。為優(yōu)化實(shí)驗(yàn)條件，測(cè)角儀采用了可移動(dòng)的雙索拉狹縫和采用微米控制的連續(xù)可變的狹縫來調(diào)整入射束和衍射束的寬度。ARL X¢TRA測(cè)角儀的X-射線光學(xué)系統(tǒng)確保具有的分辨率，對(duì)小角衍射分析在2q低達(dá)0.5°處可獲得衍射峰，系統(tǒng)的模塊化配置允許使用多種的樣品臺(tái)來滿足寬范圍的應(yīng)用。

 ARLX'TRA能配備Thermo*的杰出的Peltier制冷Si（Li）固體檢測(cè)器。這種探測(cè)器與閃爍檢測(cè)器相比有優(yōu)秀的分辨率，而且不需要濾片和單色器就可以除去K-Beta和X-射線熒光，因此，衍射峰強(qiáng)度高于其他系統(tǒng)。

 ARLX'TRA系統(tǒng)控制軟件WinXRD軟件包，是一個(gè)在WindaowÒ NT操作環(huán)境下運(yùn)行的真正的32位多任務(wù)的數(shù)據(jù)采集和分析軟件包。