UV-313/UV-365雙通道紫外輻照計(jì)產(chǎn)品概述該款紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)

UV-313/UV-365雙通道紫外輻照計(jì)

產(chǎn)品概述

      該款紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

特點(diǎn)

    光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
    數(shù)字液晶顯示，帶背光
    手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
    數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
    低電量提醒
    自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
    有數(shù)字保持
    輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

項(xiàng)目	參數(shù)	備注
波長(zhǎng)范圍λ1，峰值波長(zhǎng)λp	（290～340）nm，λP＝313nm	配備兩只探頭
波長(zhǎng)范圍λ2，峰值波長(zhǎng)λp	（320～400）nm，λP＝365nm
輻照度測(cè)量范圍	（0.1～199.9×103） μW/cm2
零值誤差（滿量程FS）	<滿量程的±1.0%
長(zhǎng)波響應(yīng)誤差	<15%
余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差	<10%
非線性誤差	<±1.5%
換檔誤差	<±1.0%
疲勞誤差	<3.0%
相對(duì)示值誤差	<±8.0％（相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)）
響應(yīng)時(shí)間	<1秒
使用環(huán)境	溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源	6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機(jī)功耗	＜0.1VA