X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷、耐火材料等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、醫(yī)療器械重金屬含量測試、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。下面介紹電鍍膜厚檢測儀器：
鍍層檢測：
2.1、常見金屬鍍層有：
鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● |
| ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
| ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、單層厚度范圍：
金鍍層0－8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內(nèi)，
可最小測量達(dá)0.001um。
2.3、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、鍍層層數(shù)為1-6層
X射線膜厚測試儀產(chǎn)品優(yōu)勢：
1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。
2. 激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。
可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性，半定量分析。
操作簡單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結(jié)果。
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
軟件*升級。
無損檢測，一次性購買標(biāo)樣可長期使用。
使用安心無憂，售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi)，提供*保姆式服務(wù)。
可以遠(yuǎn)程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。
可進(jìn)行RoHS檢測（選配功能），應(yīng)對新版中華人民共和國RoHS檢測要求，歐盟及北美RoHS檢測等要求標(biāo)準(zhǔn)，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進(jìn)行分析。
（二）X射線膜厚測試儀產(chǎn)品特征
高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
計算機(jī) / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）
Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)（FP）軟件，通過簡單的三步進(jìn)行無標(biāo)樣標(biāo)定，使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法，對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析，可以增加RoHS檢測功能。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量
相對（比）模式 無焦點(diǎn)測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應(yīng)用 [如：Cu/ABS等]
雙鍍層應(yīng)用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應(yīng)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應(yīng)用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應(yīng) [如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Smart-Ray. 快速、簡單的定性分析的軟件模塊?？赏瑫r分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件?？梢淮涡苑治?5種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊
Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)
完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù)，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
自動移動平臺，用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量。大測量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個階段文件。每個階段的文件有多 25 個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。
（三）X射線膜厚測試儀產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說明
u 測量原理：能量色散X射線分析 | u 樣品類型：固體/粉末 |
u X射線光管：50KV，1mA | u過濾器：多重濾光片自動轉(zhuǎn)換 |
u檢測系統(tǒng)：SDD探測器（或Si-Pin） | u能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV） |
u檢測元素范圍：Al (13) ~ U(92) | u準(zhǔn)直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應(yīng)用程序語言：韓／英／中 | u分析方法：FP/校準(zhǔn)曲線，吸收，熒光 |
u儀器尺寸：618*525*490mm | u樣品腔尺寸：340*280*108mm |
X射線管：高穩(wěn)定性X光光管
微焦點(diǎn)X射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口， 陽極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供優(yōu)異性能。
探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）
能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
X射線熒光光譜鍍層厚度分析儀
