電子電器此處是電子器件端子上附著異物的分析例

電子電器

此處是電子器件端子上附著異物的分析例。利用大視野相機(jī)，觀察器件整體，決定對(duì)哪個(gè)部位進(jìn)行測(cè)量。對(duì)薄的污漬或小的外來異物，反射方法譜圖質(zhì)量不好時(shí)，可以考慮使用Ge晶體的顯微ATR測(cè)量。

機(jī)械和運(yùn)輸

此處是長(zhǎng)期暴露在日光下的樹脂部件分析例。通過對(duì)部件截面紅外光譜的測(cè)量，深度方向上的降解程度實(shí)現(xiàn)了可視化。

制藥和生命科學(xué)

此處是附著在藥片表面異物的分析例。通過挑入金剛石池中進(jìn)行擠壓，可以對(duì)不同形狀的樣品進(jìn)行顯微透射測(cè)量。

石油化工

此處是薄膜偏振分析的例子。利用紅外偏振片，可以評(píng)估薄膜的偏振特性和取向。