概述：雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收

   概述：

雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩(wěn)定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。

雷達物位計可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調等優(yōu)點。

雷達物位計按工作方式可以分為非接觸式和接觸式兩種。

非接觸式微波物位計常用喇叭或桿式天線來發(fā)射與接收微波，儀表安裝在料倉頂部，不與被測介質接觸，微波在料倉上部空間傳播與返回。安裝簡單、維護量少，并且不受料倉內氣體成分、粉塵、溫度變化等的影響，深受用戶歡迎，可替代勞動強度大的人工投尺或帶重錘的卷尺、維修率高的接觸式儀表（重錘探測式y(tǒng)o-yo）、電容等。因此，非接觸式微波物位計是近年來發(fā)展的物位測量儀表。

接觸式微波物位計一般采用金屬波導體（桿或鋼纜）來傳導微波，儀表從倉頂安裝，導波桿直達倉底，發(fā)射的微波沿波導體外部向下傳播，在到達物料面時被反射，沿波導體返回發(fā)射器被接收。

優(yōu)勢特點

◆天線尺寸小，便于安裝

◆非接觸雷達，無磨損，無污染

◆嚴重粉塵環(huán)境不影響電磁波工作

◆測量盲區(qū)更小，對于小罐測量效果更好

◆幾乎不受大氣中蒸汽、濕度、壓力的影響

◆波長短，對在傾斜的固體表面有更好的反射

◆波束角小，能量集中，增強回波能力抗干擾強

◆高頻率，是測量固體和低介電常數(shù)介質的

技術參數(shù)

測量范圍：0~70米

供電電源：24VDC

測量精度：±10mm

輸出方式：4~20Ma

頻率等級：26GHz

負載能力：≤500Ω

過程壓力：-0.1~4.0MPa

過程溫度：-40℃~200℃

環(huán)境濕度：0~85%

過程連接：螺紋/法蘭（選配）

測量介質：液體、固體粉料（腐蝕、高溫、高壓等介質需定制）