JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡是日本電子新推出的一款臺式掃描電子顯微鏡，其不僅具有大型掃描電鏡的功能，相對于大型掃描電鏡其操作簡單，維護保養(yǎng)容易，體積小巧，價格低廉，檢測速度快，從啟動裝填樣品到測試出結果僅需5分鐘左右。JCM-7000還創(chuàng)新的加入了實時能譜分析和實時3D顯示的功能，更人性化的服務于您的研究和工作。

JCM-7000主要功能：

◆       在同一個視野上可以從光學圖像無縫過渡到（SEM）圖像

◆       邊觀察邊進行元素分析

◆       通過自動功能使圖像從低倍率到高倍率變得更容易

◆       低真空 (LV) 模式可以用來直接觀測不導電的樣品

◆       高真空 (HV) 模式可以進行高倍率詳細形貌的觀察

◆       在同一視野上可以實時顯示3D圖像 (Live 3D)

◆      自動布局且可以一鍵輸出結果（SMILE VIEW TM   Lab)

以下介紹幾個典型實例方便您對我們這款產(chǎn)品的深入了解：

上圖測試的樣品是巖鹽，JCM-7000可以由光學成像實時自動無縫過渡到SEM成像。

上圖測試的樣品是合金，JCM-7000通過高靈敏度探測器既可以實現(xiàn)實時顯示視野范圍中的主要組成元素，又能實時顯示各種元素的面分布情況。

上圖測試的樣品是螺絲，JCM-7000采用新型高靈敏度4分割背散射電子探測器，利用實時3D功能，實現(xiàn)了四種掃描電鏡（成分、凹凸、陰影）圖像和三維圖像的采集和顯示，由圖可以清晰看出螺絲的凹凸紋理。

上圖測試的樣品是不銹鋼 SUS304斷裂面，JCM-7000利用高真空模式和SEM圖像觀察，可以進行更精確的觀察，如圖所示在高真空條件下可以清晰的觀察條紋和韌窩的解理面，由此推斷其斷裂成因。

上圖測試的樣品是玻璃，由圖可以看出透明樣品斷面在光學顯微鏡下很難觀察形貌，在低真空下，相同放大倍數(shù)的SEM成像可以呈現(xiàn)清晰的表面形貌，放大后可清晰的觀察細節(jié)SEM成像。