產品介紹：

追求的TEM樣品制備工具

在設備及高性能納米材料的評價和分析領域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。

近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。

日立高新公司，整合了高性能FIB技術和高分辨SEM技術，再加上加工方向控制技術以及Triple Beam?＊1（選配）技術，推出了新一代產品NX2000

產品特點：

運用高對比度，實時SEM觀察和加工終點檢測功能，可制備厚度小于20 nm的超薄樣品

FIB加工時的實時SEM觀察＊2例

樣品：NAND閃存

加速電壓：1 kV

FOV：0.6 μm

加工方向控制技術（Micro-sampling?＊3系統(tǒng)（選配）+高精度/高速樣品臺＊）對于抑制窗簾效應的產生，以及制作厚度均一的薄膜類樣品給予厚望。

Triple Beam?＊1（選配）可提高加工效率，并能使消除FIB損傷自動化

EB：Electron Beam（電子束）

FIB：Focused Ion Beam（聚焦離子束）

Ar：Ar ion beam（Ar離子束）