全局高光譜顯微鏡

IMA 是一種高光譜顯微鏡，可提供 VIS、NIR 和 SWIR 范圍 （400 nm - 1620 nm） 的光譜和空間信息。該系統(tǒng)可快速映射光致發(fā)光、電致發(fā)光、熒光、反射率和透射率。IMA 基于高通量全局成像濾光片，比基于標(biāo)準(zhǔn)逐點(diǎn)或線掃描的系統(tǒng)更快、更高效。

IMA 應(yīng)用概述

• 執(zhí)行復(fù)雜的材料分析，如太陽能電池表征和半導(dǎo)體質(zhì)量控制。

• 在復(fù)雜環(huán)境中研究紅外標(biāo)記物，包括活細(xì)胞和組織。

• 檢索暗場圖像并獲得透明和未染色樣品（如聚合物、晶體或活細(xì)胞）的對(duì)比度。