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除了電子槍合軸、聚焦、消象散、襯度/亮度調(diào)節(jié)這些分別獨 立的自動功能外，還具有全
自動功能，只需輕觸按鈕就能開始成像過程，顯示當前的圖像。
觸摸想操作的項目后，會亮起綠燈，用力長按按鈕可進行粗調(diào)，輕點按鈕可進行微調(diào)，
既有觸控的簡便性也有使用旋鈕的熟悉感。
顯示保存的圖像。選擇感興趣的的圖像，勾選 Display image 按鈕，能放大該圖像進行
仔細觀測。
勾選Low Mag Imgae，能觀察剛抽完真空后的倍率的圖像，很適合確認樣品的位置。
最多能預設 6 種倍率，預先設置好常用的放大倍數(shù)還可提高作業(yè)效率 ! 只需按下其中的
instant set 按鈕就可即時設定當前的倍率。
JEOL 的品牌──觸摸屏系統(tǒng)，不僅用戶界面簡明易懂，操作也非常直觀，調(diào)節(jié)倍率等
就像使用智能手機一樣簡單方便，還可利用鼠標操作，就像使用以前的操作面板。
只需輕觸一下就可以切換高真空 / 低真空模式能觀察多種樣品。
高真空模式下能通過二次電子像和背散射電子像進行觀察。能觀察二次電子像中精細的表面結(jié)構(gòu)，在高倍率下觀察也比較容易。
由于采用了半導體背散射電子檢測 器，因而能檢測出成份像、形貌像和陰影像這三種信息，結(jié)合二次電子還可獲得多種信息。
利用 JCM-6000Plus 標配的低真空模式，可提高樣品室內(nèi)的壓力，中和樣品表面的電荷，能直接觀察不導電樣品。
觀察含有少量油分或水分的樣品以及釋放氣體、不易鍍膜的樣品也非常方便。
在 Search image window 中能選擇數(shù)據(jù)并方便地打印出來，還能調(diào)出保存好的圖像的成像
條件（加速電壓、燈絲電流、探針電流等）。
在 Search image window 中選擇感興趣的圖像，只需按下 Output images 按鈕就可以方
便地打印出來。如果選擇了多幅圖像，系統(tǒng)會自動分配在每個頁面上。
JCM-6000Plus 能調(diào)出保存的圖像的成像條件，只需選擇感興趣的圖像，押下
Load observation conditions 按鈕，系統(tǒng)就會再現(xiàn)成像條件，進行日常操作非常方便。
能并列顯示實時圖像和保存的圖像，在下面的實例中，右側(cè)顯示低倍率圖像及光學顯微鏡圖像，在左側(cè)利用實時圖像對放大的圖像進行確認，這樣就能對當前的圖像和保存的圖像一邊比較一邊觀察。
JCM-6000Plus 能拍攝視 頻，因而可以進行動態(tài)觀察。很適合觀察樣品隨時間的推移而發(fā)生的變化。
JCM-6000Plus 具有測量兩點間距離的功能，選擇 Scaler 按鈕后，自動按鈕會切換到測長按鈕，測量結(jié)果能保存在圖像和csv 數(shù)據(jù)文件中。
EDS 按下裝置的分析按鈕，就能開啟 EDS 視窗。EDS 能支持定性/定量分析、點分析和元素面分析（確認元素分布）。
用 Image（圖像）+ SPC（采集）兩個按鈕開始分析。數(shù)據(jù)采集結(jié)束后按下定量按鈕，就會顯示定量結(jié)果。
按下 Map 按鈕后，圖像的元素面分析開始。元素面分布結(jié)果會顯示組成元素的二維分布。
Analytical Assistance（分析援助）功能可使元素面分布和線分析更加容易。
在 Analytical Assistance 視窗中選擇感興趣的分析后，所需作業(yè)步驟會按順序顯示出來。只需按照視窗中指示按鈕的引
導，任何復雜的分析都能夠順利地完成。
在圖像上設定多個分析點后，系統(tǒng)會按順序自動分析各點上的元素并顯示譜圖。
分析結(jié)束后還能比較這些譜圖數(shù)據(jù)。
在圖像上測試的線上的元素含量的變化。
測試結(jié)束后還能改變元素。
進行長時間分析時，能保持分析位置的穩(wěn)定。
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