定量剛性探針，消除基于彈性懸臂的納米壓痕測試技術(shù)固有的不確定性和復雜性。專有電容式傳感器技術(shù)，提供對納米壓痕過程的**控制，并提供業(yè)界*的力和位移噪聲水平。直觀聯(lián)用接口，可簡便與流行的商用 AFM 的集成，包括布魯克的Dimension ICON, Dimension Edge和MultiMode 8等。

布魯克的Hysitron TS 75 TriboScope納米壓痕儀為原子力顯微鏡領(lǐng)域提供了定量、剛性探針的納米壓痕和納米摩擦表征能力。Hysitron TriboScope 與布魯克的Dimension ICON、Dimension Edge和MultiMode 8聯(lián)用，以擴展這些顯微鏡的表征能力。通過利用剛性測試探針，TriboScope 消除了與懸臂基測量相關(guān)的固有限制、可變性和復雜性，從而在納米到微米尺度上提供定量和可重復的力學和摩擦特性。

剛性探針優(yōu)勢

大多數(shù) 原子力顯微鏡（AFM） 利用適當?shù)膽冶圻M行力學或摩擦學測試，在將懸臂的彈性和旋轉(zhuǎn)剛度與材料對施加應力的反應分離方面提出了重大挑戰(zhàn)。TriboScope 采用剛性測試探頭組件，允許在測試期間直接控制和測量施加的力和位移。

專有靜電力驅(qū)動

TriboScope 利用專有的靜電力驅(qū)動和電容位移感傳感器技術(shù)，提供業(yè)界*的噪聲水平和低熱漂移，從而將性能描述到納米級的極限。

力和位移反饋控制

TriboScope 在閉環(huán)力控制或位移控制下工作。TriboScope 利用 78 kHz 反饋環(huán)路速率，可以響應快速材料變形瞬態(tài)事件，并忠實地再現(xiàn)操作員定義的測試功能。